Hitachi High-Tech Analytical Science

Izredno fleksibilen in zmogljiv XRF spektrometer za zagotavljanje kvalitete in procesne meritve v širokem področju industrij.

Analiziramo lahko širok nabor vzorcev (trdne snovi, tekočine, praške, paste, filme…) v območju od ppm do %, elemente od  Na¹¹ do U⁹² v periodnem sistemu.

X-Strata920 je kompakten, robusten in zanesljiv namizni XRF sistem za meritve debeline galvanskih plasti in analize materialov.

Omogoča hitro in zelo zanesljivo analizo debeline plasti in karakterizacije večplastnih vzorcev v širokem spektru industrijskih panog od elektronike, obdelave kovin, litja do aplikacij povezanih z žlahtnimi kovinami.